Type de sonde AFM: ATEC-CONT

Fabricant: NANOSENSORS (https://www.nanosensors.com)

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Code de commande / Prix, EUR	Conditionnement
ATEC-CONT-10	10 pcs
€ 403.00* €403.00
ATEC-CONT-20	20 pcs
€ 720.00* €720.00
ATEC-CONT-50	50 pcs
€ 1589.00* €1589.00

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DANGER: De très faibles quantités d'électricité statique lors de la manipulation de ces sondes, vont détruire les pointes !

Nous recommandons fortement l'utilisation d'une station ESD, si cependant vous n'en disposez pas, nous pouvons vous proposer un kit mobile ESD pour seulement 120€. En prenant en compte le prix de ces sondes, l'achat d'un tel dispositif est un sage investissement.

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ATEC AFM top front view

Description du produit:

Les sondes de la série AdvancedTEC™(ATEC) disposent d’une pointe tétraédrique qui s’avance au-delà de l’extrémité du levier. Cette caractéristique unique permet un positionnement précis de la pointe et fait de la sonde AdvancedTEC™ la seule sonde AFM au monde à offrir une REELLE VISIBILITE DE LA POINTE UNE FOIS LA SONDE MONTEE DANS LE MICROSCOPE AFM.

La sonde AdvancedTEC™ est ainsi la sonde AFM de choix pour toutes les applications nécessitant le positionnement précis de la pointe sur la surface d’intérêt ou lorsque la pointe doit être visible (par exemple pour la Nanomanipulation).

Grâce à leurs très petits demi-angles d’ouverture, les pointes de la série AdvancedTEC™ permettent d’obtenir une résolution élevée sur des échantillons présentant des structures de faibles dimensions et des flancs proches de la verticale.

La sonde NANOSENSORS™ AdvancedTEC™ CONT est conçue pour une utilisation en Mode Contact.

La sonde propose des caractéristiques uniques

RÉELLE VISIBILITÉ DE LA POINTE PAR LE DESSUS
excellent rayon de courbure de la pointe
ensemble cip levier pointe monolithique
hautement dopée pour dissiper l’électricité statique
chimiquement inerte
Q-facteur de qualité mécanique élevé pour une grande sensibilité

Serie de Sonde AFM:

Modes d'Application:

Sondes AFM mode Contact

Spécifications de la Sonde AFM:

Pointe(s) AFM:

Forme	Hauteur de la pointe	déport de pointe	Rayon de courbure de la pointe	Angle complet de cone	Demi-angle de cône
Visible	0 µm (15 - 20 µm)*	15 - 20 µm*	0 µm (0 - 0 µm)*	< 10 nm		< 12° along the cantilever axis < 8° seen from the side

Levier(s) AFM:

Forme	Longueur	Largeur	Epaisseur	Const. de force	Rép. en fréq.	Base de la Sonde
Poutre	450 µm (440 - 460 µm)*	50 µm (45 - 55 µm)*	2 µm (1 - 3 µm)*	0.2 N/m (0.02 - 0.75 N/m)*	15 kHz (7 - 25 kHz)*

* Gamme de valeur garantie

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