Description du produit:
Les sondes de la série AdvancedTEC™ (ATEC) disposent d’une pointe tétraédrique qui s’avance au-delà de l’extrémité du levier. Cette caractéristique unique permet un positionnement précis de la pointe et fait de la sonde AdvancedTEC™ la seule sonde AFM au monde à offrir une REELLE VISIBILITE DE LA POINTE UNE FOIS LA SONDE MONTEE DANS LE MICROSCOPE AFM.
La sonde AdvancedTEC™ est ainsi la sonde AFM de choix pour toutes les applications nécessitant le positionnement précis de la pointe sur la surface d’intérêt ou lorsque la pointe doit être visible (par exemple pour la Nanomanipulation).
Grâce à leurs très petits demi-angles d’ouverture, les pointes de la série AdvancedTEC™ permettent d’obtenir une résolution élevée sur des échantillons présentant des structures de faibles dimensionalités et des flancs proches de la verticale. La sonde NANOSENSORS™ AdvancedTEC™ EFM est conçue pour des mesures de forces électrostatiques et une utilisation en Mode Modulation de Force (FM mode).
La sonde propose des caractéristiques uniques :
- RÉELLE VISIBILITÉ DE LA POINTE PAR LE DESSUS
- Conductivité métallique de la pointe
- Q-facteur de qualité mécanique élevé pour une grande sensibilité
- Hauteur de la pointe 15-20µm
- Rayon de courbure typiquement inférieure à 20nm
- rapport d’aspect sur les derniers 1.5µm de la pointe supérieur à 4:1 (dans l’axe du levier et vue de côté)
- La configuration de la pointe est définie par des veritables plans
- cristallographiques entrainant des géométries très reproductibles et des surfaces extrêmement lisses.
- Silicium monocristallin hautement dopé (0.01-0.025Ohm*cm)
- Levier rectangulaire à section trapézoïdale
- Les dimensions du support sont 1.6mm x 3.4mm
A noter: Une usure de la pointe peut survenir en cas d’opération en Mode Contact, en Mode Friction ou en Mode Modulation de Force ou lorsqu’il est nécessaire d’appliquer des courants électriques élevés.
Revêtement
Le revêtement PtIr5 est constitué d'une double couche d'épaisseur approximative de 25nm de Chrome et de Platine Iridium5 sur les deux faces du levier. Le revêtement coté pointe augmente la conductivité de la pointe et permet le contact électrique. Le revêtement coté détecteur augmente la réflectivité du faisceau laser d'un facteur 2 environ et évite les interférences destructives sur le levier. Le procédé de dépôt est optimisé pour la compensation de contraintes et la résistance à l'usure. La courbure du levier due aux contraintes est inférieure à 3,5% de la longueur du levier.
Serie de Sonde AFM:
ATEC AFM top front view