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Description du produit:
Sonde AFM avec auto-détection et auto-excitation pour une utilisation en mode dynamique (Mode Non-Contact, Mode Contact Intermittent – Tapping Mode)
La sonde Akiyama-Probe est une sonde AFM dont le principe de fonctionnement repose sur la combinaison d’un diapason en quartz (tuning fork) et d’un levier microfabriqué. Cette association permet à la sonde Akiyama-Probe de bénéficier à la fois de la grande stabilité d’oscillation du diapason en quartz et de la constante de force moderée du levier en silicium.
La sonde Akiyama est dotée d’une version adaptée de la pointe NANOSENSORS™ AdvancedTEC, pointe silicium haut de gamme, et dispose d’une excellente capacité d’imagerie sur divers échantillons présentant des propriétés variées.
La sonde Akiyama-Probe ne nécessite ni détection optique, ni excitation externe. L’absence de système optique permet à la sonde A-Probe de fonctionner en n’occupant qu’un volume restreint au-dessus de l’échantillon. Ces caractéristiques la rendent très attractive pour la création d’une nouvelle génération d’instruments de microscopie à sonde à balayage (Scanning Probe Microscopy: SPM).
Remarque importante: la sonde Akiyama n’est pas une sonde «prête à l’emploi». Si elle n’est pas utilisée dans un AFM conçu spécialement pour cette sonde, comme certains fabriquant le proposent, elle nécessite sa propre instrumentation spécifique afin de la faire fonctionner. Pour plus d’information sur cette mise en œuvre, allez ici.