Type de sonde AFM: NW-SSS-NCH

Fabricant: NanoWorld (https://www.nanoworld.com)

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Code de commande / Prix, EUR	Conditionnement
NW-SSS-NCH-10	10 pcs
€ 778.00* €778.00
NW-SSS-NCH-20	20 pcs
€ 1394.00* €1394.00
NW-SSS-NCH-50	50 pcs
€ 3074.00* €3074.00

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DANGER: De très faibles quantités d'électricité statique lors de la manipulation de ces sondes, vont détruire les pointes !

Nous recommandons fortement l'utilisation d'une station ESD, si cependant vous n'en disposez pas, nous pouvons vous proposer un kit mobile ESD pour seulement 120€. En prenant en compte le prix de ces sondes, l'achat d'un tel dispositif est un sage investissement.

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site Web du fabricant nanoworld.com

Description du produit:

Les sondes NanoWorld Pointprobe® NCH sont conçues pour l’imagerie en mode sans contact et mode de contact intermittent. Cette sonde combine la stabilité de fonctionnement élevée avec une sensibilité exceptionnelle et une capacité de balayage rapide.

Toutes les sondes SPM et AFM des séries Pointprobe® sont fabriquées à partir de silicium monolithique hautement dopé afin de dissiper les charges électrostatiques. Elles sont chimiquement inertes et offrent un Q-facteur mécanique élevé pour une grande sensitivité. La pointe est configurée en forme de pyramide à base polygonale avec hauteur de 10-15µm.

Afin d’obtenir une meilleure résolution des nanostructures et microrugosités nous avons developpé un procédé d’avant-garde de fabrication de la pointe menant à une acuité incomparable de la pointe SuperSharpSilicon.

Cette sonde à des caracteristiques uniques:

Rayon de courbure de la pointe typiquement de 2nm
Rayon de courbure guaranti 5nm (rendement supérieure à 80%)
Demi-angle de cône inférieure à 10° sur les derniers 200nm de la pointe

Pour les applications nécessitant des fréquences de résonance plus faibles ou une longueur de levier supérieure à 125 µm, utilisez la référence Nanoworld Pointprobe SSS-NCL.

Ce produit comporte des rainures d'alignement sur la face arrière du support de préhension.

Modes d'Application:

Pointes AFM Supersharp

Spécifications de la Sonde AFM:

Pointe(s) AFM:

Forme	Hauteur de la pointe	déport de pointe	Rayon de courbure de la pointe	Angle complet de cone	Demi-angle de cône
Supersharp	(10 - 15 µm)*	10 - 15 µm*		< 2 nm (< 5 nm garanti)		< 10° at the last 200 nm of the tip

Levier(s) AFM:

Forme	Longueur	Largeur	Epaisseur	Const. de force	Rép. en fréq.	Base de la Sonde
	125 µm (120 - 130 µm)*	30 µm (25 - 35 µm)*	4 µm (3.5 - 4.5 µm)*	42 N/m (21 - 78 N/m)*	320 kHz (250 - 390 kHz)*

* Gamme typique