Type de sonde AFM: NW-SSS-NCL

Les sondes NanoWorld Pointprobe® NCL sont conçues pour le mode sans contact ou le mode contact intermittent et offrent une alternative à notre sonde type NCH à haute fréquence, sans contact. Le type NCL est recommandé au cas où la boucle d’asservissement du microscope n’accepte pas les hautes fréquences ou si le système de détection exige une longueur minimale du levier supérieure à 125µm. Cette sonde combine la stabilité de fonctionnement élevée avec une sensibilité exceptionnelle et une capacité de balayage rapide. Par rapport au type NCH à haute fréquence sans contact, la vitesse maximale de balayage est légèrement réduite.

Toutes les sondes SPM et AFM des séries Pointprobe® sont fabriquées à partir de silicium monolithique hautement dopé afin de dissiper les charges électrostatiques. Elles sont chimiquement inertes et offrent un Q-facteur mécanique élevé pour une grande sensitivité. La pointe a une forme de pyramide à base polygonale.

Afin d’obtenir une meilleure résolution des nanostructures et microrugosités nous avons développé un procédé d’avant-garde de fabrication de la pointe permettant d’obtenir une finesse incomparable de la pointe SuperSharpSilicon.

Cette sonde bénéficie des caractéristiques uniques:

• excellent rayon de courbure
• rayon de courbure de la pointe garanti 5nm (rendement supérieure à 80%)

Pour des applications autorisant des fréquences de résonance plus élevées ou des leviers plus courts, utilisez la référence Nanoworld Pointprobe SSS-NCH.