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Description du produit:
Les sondes de la série PointProbe® Plus (PPP) allient les qualités reconnues de la très réputée série PointProbe® avec une qualité de pointe encore améliorée. Ainsi, en plus de la grande diversité d’applications et de la compatibilité avec la plupart des microscopes SPMs, la géométrie de la pointe PointProbe® Plus (PPP) est mieux définie et son rayon de courbure est encore plus petit et plus reproductible. La combinaison de ces deux améliorations permet d’obtenir une meilleure résolution et des images plus reproductibles.
La sonde NANOSENSORS™ PPP-CONTSC est une sonde alternative conçue pour une utilisation en Mode Contact. Elle présente un levier plus court que celui d’une sonde classique de Mode Contact et permet ainsi un échange facilité avec des sondes de Mode Non-Contact sur certains instruments AFM. Cette sonde permet également une utilisation en Mode Friction Force ou en Mode Lateral Force.
La sonde offre des caractéristiques uniques:
- excellent rayon de courbure de la pointe
- hautement dopée pour dissiper l’électricité statique
- Q-facteur de qualité mécanique élevé pour une grande sensibilité
- alignement précis de la position du levier (dans les limites de +/-2µm) en conjonction avec l’utilisation d’un chip d’alignement
- compatible avec les séries PointProbe® Plus XY-Alignment
Ce produit comporte des rainures d'alignement sur la face arrière du support de préhension.