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Description du produit:
La sonde NANOSENSORS™ PtSi-NCH est conçue pour une utilisation en mode dynamique (Mode Non-Contact, Mode Contact Intermittent–Tapping Mode). Cette catégorie de sondes AFM combine une stabilité de fonctionnement élevée avec une sensibilité exceptionnelle ainsi qu’une capacité de balayage rapide.
Nous recommandons ce type pour des applications qui exigent une résistance à l'usure et une pointe électriquement conductrice. Certaines applications sont le C-AFM et la Microscopie à effet tunnel. Le revêtement de Siliciure de Platine a une excellente conductivité (quasiment une conductivité métallique).
Le rayon de courbure de la pointe est typiquement de l’ordre de 25nm.
La sonde offre des caractéristiques uniques:
- revêtement de Siliciure de Platine avec une conductivité excellente et une grande résistance à l’usure
- chimiquement inert
- Q-facteur de qualité mécanique élevé pour une grande sensibilité
Revêtement
Siliciure de Platine sur le côté pointe et détecteur
Ce produit comporte des rainures d'alignement sur la face arrière du support de préhension.