Type de sonde AFM: SSS-SEIH

Fabricant: NANOSENSORS (https://www.nanosensors.com)

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Disponibilité du produit: en stock

Code de commande / Prix, EUR	Conditionnement
SSS-SEIH-10	10 pcs
€ 815.00* €815.00
SSS-SEIH-20	20 pcs
€ 1458.00* €1458.00
SSS-SEIH-50	50 pcs
€ 3213.00* €3213.00

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DANGER: De très faibles quantités d'électricité statique lors de la manipulation de ces sondes, vont détruire les pointes !

Nous recommandons fortement l'utilisation d'une station ESD, si cependant vous n'en disposez pas, nous pouvons vous proposer un kit mobile ESD pour seulement 120€. En prenant en compte le prix de ces sondes, l'achat d'un tel dispositif est un sage investissement.

Cliquer ici pour commander un kit ESD

Voir ce produit sur le
site Web du fabricant nanosensors.com

Description du produit:

Pour les possesseurs d’un microscope Seiko Instruments utilisant le mode sans contact, nous recommandons les sondes AFM NANOSENSORS™ SEIH (Seiko Instruments / grande force constante). En comparaison avec le type ZEIH la constante de force est réduite d’avantage.

La sonde offre des caractéristiques uniques:

excellent rayon de courbure de la pointe
rapport d’aspect typique de l’ordre de 200nm de l’apex de la pointe de l’ordre de 3:1
matériau monolithique
hautement dopée pour dissiper l’électricité statique
chimiquement inerte
Q-facteur de qualité mécanique élevé pour une grande sensibilité
alignement précis de la position du levier (dans les limites de +/-2µm) en conjonction avec l’utilisation d’un chip d’alignement
compatible avec les séries PointProbe® Plus XY-Alignment

Afin d’obtenir une meilleure résolution des nanostructures et microrugosités nous offrons notre pointe SuperSharpSilicon™ avec une acuité incomparable.

Ce produit comporte des rainures d'alignement sur la face arrière du support de préhension.

Modes d'Application:

Pointes AFM Supersharp

Spécifications de la Sonde AFM:

Pointe(s) AFM:

Forme	Hauteur de la pointe	déport de pointe	Rayon de courbure de la pointe	Angle complet de cone	Demi-angle de cône
Supersharp				< 2 nm (< 5 nm garanti)		< 10° at 200 nm from apex

Levier(s) AFM:

Forme	Longueur	Largeur	Epaisseur	Const. de force	Rép. en fréq.	Base de la Sonde
Poutre	225 µm (215 - 235 µm)*	33 µm (25 - 40 µm)*	5 µm (4 - 6 µm)*	15 N/m (5 - 37 N/m)*	130 kHz (96 - 175 kHz)*

* Gamme de valeur garantie