Description du produit:
Les sondes de la série 17 avec une constante de force faible sont généralement utilisées en mode contact. Il est possible d’ajuster les paramètres de balayage afin de minimiser les forces entre la pointe et l’échantillon. L’imagerie en mode Tapping permet d’obtenir une bonne topographie de surface d’échantillons ductiles (mou).
Un dépôt dur et tribologiquement résistant de 20nm est déposé sur la sonde coté pointe. Le dépôt est chimiquement inerte et plus hydrophobe que le Silicium avec son oxyde natif.
Revêtement
Dépôt résistant à l'usure d'uné épaisseur de 20nm sur le coté pointe du levier. Dépôt Aluminium d'une épaisseur de 30nm sur la face arrière du levier.
Ce produit comporte des rainures d'alignement sur la face arrière du support de préhension.