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Pt coated probe tip close-up
Description du produit:
Les sondes de la série 17 avec une constante de force faible sont généralement utilisées en mode contact. Il est possible d’ajuster les paramètres de balayage afin de minimiser les forces entre la pointe et l’échantillon. L’imagerie en mode Tapping permet d’obtenir une bonne topographie de surface d’échantillons ductiles (mou).
Sondes avec un revêtement conducteur de Pt de 30nm et chimiquement inerte, sur les deux faces, coté pointe et coté levier. Rayon de courbure de la pointe avec le revêtement de l’ordre de 30nm.
Revêtement
La couche conductrice de 30nm de Pt est continue de la fin de la pointe jusqu'au chip de préhension. Le revêtement couvre les deux faces du levier.
Ce produit comporte des rainures d'alignement sur la face arrière du support de préhension.