Type de sonde AFM: HQ:XSC11/Pt

Fabricant: MikroMasch (https://www.spmtips.com)

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Pt coated probe tip close-up

Description du produit:

Les sondes de la série 11 comportent 4 leviers de longueurs différentes, deux leviers de chaque côté du support de préhension. Elles peuvent être utilisées pour diverses applications.

Sondes avec un revêtement conducteur de Pt de 30nm et chimiquement inerte, sur les deux faces, coté pointe et coté levier. Rayon de courbure de la pointe avec le revêtement de l’ordre de 30nm.

Revêtement

La couche conductrice de 30nm de Pt est continue de la fin de la pointe jusqu'au chip de préhension. Le revêtement couvre les deux faces du levier.

Modes d'Application:

Sondes AFM conductrices

Spécifications de la Sonde AFM:

Pointe(s) AFM:

Forme	Hauteur de la pointe	déport de pointe	Rayon de courbure de la pointe	Angle complet de cone	Demi-angle de cône
Tourné de 180°	15 µm (12 - 18 µm)*	12 - 18 µm*		< 30 nm	40°

Levier(s) AFM:

Cant.	Forme	Longueur	Largeur	Epaisseur	Const. de force	Rép. en fréq.
1Cantilever A	Poutre	500 µm (495 - 505 µm)*	30 µm (27 - 33 µm)*	2.7 µm (2.2 - 3.2 µm)*	0.2 N/m (0.1 - 0.4 N/m)*	15 kHz (12 - 18 kHz)*
2Cantilever B	Poutre	210 µm (205 - 215 µm)*	30 µm (27 - 33 µm)*	2.7 µm (2.2 - 3.2 µm)*	2.7 N/m (1.1 - 5.6 N/m)*	80 kHz (60 - 100 kHz)*
3Cantilever C	Poutre	150 µm (145 - 155 µm)*	30 µm (27 - 33 µm)*	2.7 µm (2.2 - 3.2 µm)*	7 N/m (3 - 16 N/m)*	155 kHz (115 - 200 kHz)*
4Cantilever D	Poutre	100 µm (95 - 105 µm)*	50 µm (45 - 55 µm)*	2.7 µm (2.2 - 3.2 µm)*	42 N/m (17 - 90 N/m)*	350 kHz (250 - 465 kHz)*

* Gamme typique

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