Type de sonde AFM: qp-SCONT

Fabricant: NANOSENSORS (https://www.nanosensors.com)

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Code de commande / Prix, EUR	Conditionnement
qp-SCONT-10	10 pcs
€ 374.00* €374.00
qp-SCONT-20	20 pcs
€ 660.00* €660.00
qp-SCONT-50	50 pcs
€ 1465.00* €1465.00

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DANGER: De très faibles quantités d'électricité statique lors de la manipulation de ces sondes, vont détruire les pointes !

Nous recommandons fortement l'utilisation d'une station ESD, si cependant vous n'en disposez pas, nous pouvons vous proposer un kit mobile ESD pour seulement 120€. En prenant en compte le prix de ces sondes, l'achat d'un tel dispositif est un sage investissement.

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SEM image of a SCONT uniqprobe cantilever
(side view)

Description du produit:

La sonde NANOSENSORS uniqprobe allie les qualités reconnues des autres sondes AFM NANOSENSORS tel que la grande versatilité d’applications et de la compatibilité avec la plupart des microscopes SPM avec l’avantage supplémentaire d’une réduction importante de la dispersion de la constante de force et de la fréquence de résonance. L’uniformité inégalée des caractéristiques mécaniques de la série des uniqprobe est particulièrement importante pour des applications ou un grand nombre de sondes avec des constantes de force ou des fréquences de résonance bien définies et quasi identiques sont nécessaires. Les sondes de la série uniqprobe sont particulièrement adaptées dans le domaine de la biologie moléculaire, la biophysique et des études nano mécaniques quantitatives.

Les sondes NANOSENSORS™ qp-SCONT sont conçues pour une utilisation en Mode d’imagerie AFM de contact à l’air ou dans un environnement liquide. Le type SCONT offre une constante de force très faible permettant des mesures en mode contact sur des matériaux biologiques mous avec une grande sensibilité.

La sonde offre les caractéristiques uniques :

Faible dispersion de la constante de force et de la fréquence de résonance
Haute de pointe typique de 7µm
rayon de courbure typique de la pointe inférieur à 10nm
Leviers sans contraintes internes comportant beaucoup moins de courbures à charge nulle
Pointes et leviers sont fabriqués dans un matériau similaire au quartz
Dérives réduites pour les applications en environnement liquide
Précision de repositionnement de la pointe meilleure que ±8µm (en conjonction avec l’utilisation d’un chip d’alignement)
Chimiquement inerte

Revêtement

Une couche Chrome/Or d’environ 60nm recouvre partiellement le levier côté détecteur en son extrémité, là où est situé la pointe. Les avantages principaux de cette couche métallique partielle sont une courbure beaucoup moins importante du levier et une réduction des dérives thermiques lors des mesures SPM dans les environnements liquides.

Ce produit comporte des rainures d'alignement sur la face arrière du support de préhension.

Serie de Sonde AFM:

Modes d'Application:

Spécifications de la Sonde AFM:

Pointe(s) AFM:

Forme	Hauteur de la pointe	déport de pointe	Rayon de courbure de la pointe	Angle complet de cone	Demi-angle de cône
Circulaire et symétrique	7 µm (5.5 - 8.5 µm)*	5.5 - 8.5 µm*		< 10 nm (< 15 nm garanti)

Levier(s) AFM:

Forme	Longueur	Largeur	Epaisseur	Const. de force	Rép. en fréq.	Base de la Sonde
Poutre	125 µm (120 - 130 µm)*	34 µm (32 - 36 µm)*	350 nm (320 - 380 nm)*	0.01 N/m (0.006 - 0.015 N/m)*	11 kHz (8 - 13 kHz)*

* Gamme de valeur garantie

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qp-SCONT Feuille de spécification